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半导体制造技术导论第三版(第三代半导体材料特性对比)

发布时间:2024-03-08 20:27:31 制造技术 685次 作者:装备制造资讯网

随着对大功率、散热、抗干扰器件的要求越来越高,以GaN为代表的第三代半导体材料登上了舞台,它们共同的特点即是禁带宽度大,抗辐照能力强,热稳定性好、化学稳定性好,加上良好的散热性,使得第三代半导体在大功率及特殊环境下的应用前景十分广阔。

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半导体制造技术导论第三版(第三代半导体材料特性对比)

一、GaN材料概论

目前,半导体材料主要分为三代,第一代半导体材料主要以Si、Ge半导体材料为主,Ge半导体材料由于的高温和抗辐射性能较差,第二代半导体材料主要是指化合物半导体,如GaAs、InSb为代表的二元化合物半导体,以GaAs为代表的第二代半导体主要用于制作高性能的毫米波、微波或光电子器件。第三代半导体主要指的是以GaN,SiC,InN化合物为代表的宽禁带材料,相比于第二代半导体,其具有高电子迁移率,高电子浓度,耐高温,抗辐射等优点,更适宜于制作高温、高频以及大功率器件,目前,实验测得GaN材料的结构主要有以下三种,分别是纤锌矿结构、闪锌矿结构以及盐矿结构,在常温常压下,GaN主要以闪锌矿和纤锌矿的结构存在。

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二、GaN器件发展情况介绍

由于第三代GaN材料本身具有以上的优势特性,使得GaNHEMT成为了GaN材料除光电器件外的另一个重要的发展方向,其在射频电子器件和功率电子器件方面的产值也在不断增加。目前,Si和基于GaAs的HEMTs、HBTs占领着该领域大部分的市场,它们工艺更加成熟,因此更为人们所熟知。不过,在高频大功率应用中,GaAs有2个主要的缺点,即临界电场小、热导率低。

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GaAs衬底比Si价格昂贵许多,并且生长更难控制,热导率表现不好,相比之下,GaN在Si衬底上生长已经实现,而且GaN的临界电场比GaAs几乎要大一倍,将能在更大电压下工作。SiC衬底非常昂贵,尺寸还做不大,并且包含微观缺陷,影响了器件的产量。

由于它的工作频率、击穿电压和功率密度的局限性,其发展受到限制,实际上,我们希望所制造出的器件具有以下的优点:具有高的输出阻抗,即要求缓冲层漏电要小;要有高的击穿电压;跨导要高,而且应与栅压保持较好的线性关系,即栅控制能力要强;欧姆接触电阻要小,不应大于沟道电阻;夹断特性要好,关态电流越小越好,至少要比开态电流小3个数量级;截止频率要高,要在较大的电压、电流范围内不会退化;器件还应具有良好的散热能力,因此,AlGaN/GaNHEMT有着独特的优势。

三、结语

随着以GaN材料为代表的第三代半导体的深入研究,其应用范围越来越广泛,我国第三代半导体材料的研究起步较晚,相对国外先进国家技术水平仍处于较低水平,应当着力发展。